국내 LED소자 검사장비 기술, 국제표준으로 추진된다

국표원, 제주 개최 국제표준회의에 제안

광발광 츠정법 활용한 비접촉식 검사법

[세종=뉴시스]이승주 기자 = 차세대 디스플레이 핵심부품으로 꼽히는 초소형 발광 다이오드(LED) 소자의 검사장비 기술이 국제표준으로 추진된다.

산업통상자원부 국가기술표준원은 22일부터 3일 간 제주에서 개최되는 반도체 소자 국제표준회의에서 이를 제안한다고 밝혔다. 이번 회의에는 우리나라를 포함 중국, 일본, 독일 등 4개국 50여명 반도체 전문가가 참가한다.

최근 우리나라는 인공지능용 뉴로모픽 반도체와 시스템 반도체 공정 부품 검사장비 등 국제표준 개발을 주도하고 있다. 이번 회의에서 디스플레이용 마이크로LED 소자 품질평가 방법을 신규 제안했다.

마이크로 LED는 무기발광 소자이자 탄소화합물 기반의 유기발광 다이오드(OLED)보다 수명이 길다. 화면에 잔상이 남는 번인현상이 없어 차세대 디스플레이로 각광 받는다.

이번에 제안한 표준은 광발광 측정법을 활용한 비접촉식 마이크로LED 소자 품질 검사 방법이다. 광발광 측정법은 LED소자가 레이저 등으로 빛에너지를 받으면 마치 전원이 연결된 듯 빛을 내는데, 이 빛을 분석해 검사하는 비접촉식 방법이다.

기본 방식인 전원을 연결하는 접촉식 방법 보다 빠르고 경제적으로 불량 여부를 확인할 수 있다. 마이크로 LED 소자 품질 검사 비용을 50%이상 절감할 것으로 기대된다. 이번 제안은 국표원의 '첨단산업 국가 표준화 전략'의 일환으로 국내 중소기업의 마이크로 LED 검사 장비 기술을 활용해 추진됐다.

오광해 국표원 표준정책국장은 "마이크로 LED 소자를 활용한 차세대 디스플레이는 현재 본격 상용화를 앞둔 만큼 큰 성장이 기대되는 분야"라며 "우리나라 기업의 장비 기술이 국제표준으로 세계 기준이 될 수 있게 적극 지원하겠다"고 말했다.


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