'반도체 핵심 검사 기술' 중국으로 빼돌린 3명 기소

반도체 공정 검사 부품 '프로브 카드' 기술

대전광역·지방공소청 전경. *재판매 및 DB 금지

[대전=뉴시스]김도현 기자 = 반도체 검사 부품인 '프로브 카드'를 설계 및 제조하는 국내 업체에서 중국 업체로 이직하며 가져간 국내 첨단 기술로 제품을 개발한 3명이 재판에 넘겨졌다.

대전지방공소청 중대범죄기소2부(부장검사 허윤희)와 지식재산처 특별사법경찰은 최근 산업 기술의 유출 방지 및 보호에 관한 법률 위반, 부정 경쟁 방지 및 영업 비밀 보호에 관한 법률 위반 혐의를 받는 중국 업체 소속 부장 A(45)씨를 구속 기소하고 차장 2명을 불구속기소 했다고 14일 밝혔다.

A씨 등 3명은 지난해 4월부터 9월까지 중국 업체에 다니며 자체 프로브 카드를 개발할 목적으로 이직 전에 근무했던 국내 업체의 설계도면 등 프로브 카드 기술 자료를 활용, 중국 외주 업체를 통해 프로브 카드 설계 등을 개발한 혐의를 받고 있다.

특히 A씨는 해당 범행 중 자신이 근무하는 중국 업체에서 자체 프로브 카드를 개발할 목적으로 6회에 걸쳐 이메일을 통해 근무 중인 업체 임직원과 외주 업체 임직원에게 국내 프로브 카드 기술 자료를 전송한 것으로 알려졌다.

프로브 카드란 반도체 제조 공정 중 칩이 포장되기 전 웨이퍼 상태에서 개별 칩의 전기적 불량 여부를 검사하는 공정에 사용하는 핵심 부품이다.

최근 국내 반도체 기업들이 생산 역량을 집중하는 고대역폭메모리(HBM) 반도체의 경우 반도체 칩을 적층하기 전 공정에서 신속하게 불량 여부를 판별해야 하기 때문에 프로브 카드 역할이 더욱더 중요하다.

피해를 입은 국내 업체는 첨단 반도체용 프로브 카드 기술의 국산화에 성공한 소수의 국내 제조회사로 세계적인 반도체 생산 기업들에 프로브 카드를 납품하고 있다.

공소청은 A씨 등 3명이 부정으로 사용한 국내 업체 기술 자료 대부분이 설계도면, 시뮬레이션 자료 등 고도의 시간과 비용을 투자해 기술적 가치가 높고 산업발전법상 보호해야 하는 첨단 기술에 해당한다고 봤다.

지재처는 국가정보기관 첩보로 해당 사건 수사를 시작했고 이 과정에서 공소청은 전 과정에서 적법한 증거를 획득하고 수사 방향, 범죄 사실 특정 및 법률 적용 등 긴밀한 협력을 펼쳤다.

또 중국에 체류 중이던 피고인들이 국내에 입국했을 때 신속하게 압수수색을 진행, 출국 금지 조치를 내렸다.

공소청 관계자는 "국산화에 성공한 핵심 기술들이 해외로 유출될 경우 국내 반도체 산업이 해외 공급망에 의존하는 구조로 퇴보할 가능성이 있다"며 "피고인들이 죄에 상응하는 처벌을 받을 수 있도록 공소 유지에 최선을 다하고 유관 기관과 긴밀히 협력해 기술 유출 범죄에 엄정하게 대응하겠다"고 말했다.


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